Краткая характеристика плат сбора данных
На заключительном этапе анализа надежности СУ проводятся численные расчеты, определяются остальные количественные показатели надежности и выясняется её допустимый уровень. И для повышения помехозащищенности аппаратуры конструктивно объединялся с предварительным усилителем рис.
Источник питания вырабатывает стабилизированные напряжения, В 5, ± 15 при максимальном токе нагрузки по каждому напряжению, А 1 2. Дисперсия оценки корреляционной функции обратно пропорциональна длине выборки, а также обратно пропорциональна ширине полосы частот шума В. Распределение интенсивности на голографическом изображении в этом случае изменяется не только от координат, но и во времени. Такое решение обладает большей гибкостью по сравнению с общепринятыми, поскольку: 1 благодаря использованию LabVIEW позволяет быстро адаптировать ПО к свойствам исследуемого объекта; 2 позволяет увеличить число каналов не загружая ресурсы системы обработки формированием временных диаграмм работы оборудования. Частота среза ФНЧ Баттерворта, кГц 2±0,1 2. Неотъемлемой частью ИИС является персональный компьютер, в состав которого входит плата аналого-цифрового АЦП и цифро-аналогового преобразования ЦАП, необходимые для: соответственно, преобразования унифицированного аналогового сигнала в цифровой вид, -понятный для ЭВМ и обратного процесса - преобразования цифровых данных с ЭВШв аналоговый сигнал для управления исполнительными устройствами.
Представленные в работе инструменты использованы в Государственном унитарном предприятии г. Где Σх- сумма координат х всех пикселей, расположенных на окружности, ΣУ- сумма координат у всех пикселей, расположенных на окружности, Вокр - число пикселей, расположенных на окружности. Быстрым развитием средств аналитического контроля и анализа например, их разрешающей способности. В результате сравнения этих методов предпочтение было отдано методу IMAQ Magic Wand.
Николаев //Электронное приборострое ние. Поскольку в действительности частотный коэффициент передачи или импульсная характеристика стробоскопического осциллографа будет определен с погрешностью, значения коэффициента передачи суммируются с заданной систематической и случайной распределенной по нормальному закону погрешностью измерения. Используемое оборудование и программное обеспечение National Instruments Для выполнения лабораторного практикума используются: персональный компьютер со следующими характеристиками: процессор класса Pentium III, с тактовой частотой 1 ГГц, объем оперативной памяти - 512 Мб, 20 Гб свободного дискового пространства; установленная операционная система Windows XP, среда визуального графического программирования LabVIEW 8. Диапазон возможной установки частоты испытательного сигнала был выбран равным 0-100 kHz.
За счет неидеальностей источника стабильного тока и инструментального усилителя ИУ в измерительном канале возникают аддитивная и мультипликативная погрешности. Эквалайзер функционирует таким образом, что его амплитудно-частотная характеристика АЧХ становится близкой к обратной АЧХ канала связи. Вх» — расчетная характеристика входного процесса рассчитанная по выбранной математической модели процесса; ; клавиша «Генер» — характеристика сформированного процесса «измеренная» компьютером на «входе» цепи; ; клавиша «Измер» — характеристика преобразованного процесса «измеренная» компьютером на «выходе» цепи; ; клавиша «Расч. Измерительный контроль с применением неиндустриальных камер в производственных условиях Постановка задачи Использование для технических измерений массово производимых видео- и фотокамер, не предназначенных специально для индустриальных применений, обусловлено их невысокой стоимостью и достаточно высокими техническими характеристиками. Поскольку в действительности частотный коэффициент передачи или импульсная характеристика стробоскопического смесителя будет определен с погрешностью, значения коэффициента передачи суммируются с заданной систематической и случайной распределенной по нормальному закону 5 погрешностью измерения. Оборудование, встраиваемое как в персональные, так и в промышленные компьютеры, наряду с решением вопросов внедрения информационных технологий в учебный процесс преподавания естественно-научных дисциплин, позволяет унифицировать и значительно упростить постановку автоматизированных методик измерений в научных исследованиях, в том числе и по приоритетным направлениям в области прикладной физики, включая нанотехнологии. Влияние временного окна на разрешение по спектруКак отмечалось выше, разрешение по спектру определяется длиной временного окна или шириной центрального лепестка спектрального окна. Основой выявления пузырей в слое была функция сложения изображений с двух слоев, которая давала контуры объемных неоднородностей. На качество сварки влияет: амплитудно-частотная характеристика ультразвукового инструмента; величина акустической мощности, вводимая в зону сварки; усилие прижима ультразвукового инструмента к свариваемому изделию; скорость перемещения ультразвукового инструмента. Лабораторные работы по дисциплине «Радиотехнические цепи и сигналы». Ввиду того, что математические возможности более поздних версий LabVIEW расширились, возможно, в них всю математическую обработку можно сделать, не передавая данные для расчетов в DIAdem. Наименования в рамках должны быть точно такими же, как в формульном узле. Привлечение студентов к научно-исследовательским работам, включая работы по хоздоговорным тематикам в области прикладной физики и физической информатики. Развитие лабораторного практикума предполагается в рамках подготовки практико-ориентированных магистров по специализации «Информационно-измерительные системы». На основе этих модулей можно создавать испытательные стенды 1 и лабораторные работы для обучения физическим основам ультразвуковой дефектоскопии.
Установление взаимосвязей и закономерностей между параметрами плазмы и характеристиками движения макрочастиц пылинок, даст возможность управлять их образованием и организацией. Такие источники будут обладать рядом преимуществ над традиционно используемыми в силу своей малой энергоемкости, отсутствия высокого напряжения, малых размеров и широкой управляемости спектром излучения и его характеристиками. Размерность матрицы решений может быть легко изменена.
Для вычисления ориентированной площади простого многоугольника следует сложить площади треугольников OP1P2, OP2P3, … OPnP1 где О- произвольная точка плоскости. Представлен результат автоматического нахождения контура, а на рис.
Можно формировать «белый» шум с шириной спектра 2 МГц и заданным законом распределения нормальным, равномерным, релеевским и райсовским и нормальный случайный процесс с произвольной корреляционной функцией. Регистрируемые данные сохраняются в файлы с маской N_ch*. Getting Started with the LabVIEW Toolkit for LEGO® MINDSTORMS® NXT, National Instruments Corporation, 2006, pp.
Отмечено, что на нелинейный резистор с ВАХ у=х3 действует синусоидальный сигнал с максимальной амплитудой 1 В и частотой 100 Гц.
Исследования
Стендовые испытания (виброакустика, тензометрия и т.п.)
- Автоматизированная система измерения параметров дизельных двигателей типа В-46
- Система мониторинга состояния тяговых электродвигателей электровоза на базе устройств National Instruments
- Контроль духовых музыкальных инструментов
- Лабораторный комплекс по исследованию элементной базы машин
- Применение LabVIEW real-time module для моделирования электромагнитных процессов с целью отладки систем управления электрооборудованием на электроподвижном составе (ЭПС)
- Создание комплекса по измерению скорости подвижного состава для тренажера машиниста состава
- Система автоматизации экспериментальных исследований в гиперзвуковых аэродинамических трубах
- Функциональные модули в стандарте Nl SCXI для ультразвуковых контрольно-измерительных систем
- Магнитометрический метод в дефектоскопии сварных швов металлоконструкций
- Перспективы использования машинного зрения в составе системы управления движением экраноплана
- Компьютерные измерительные системы для лабораторных испытаний материалов методом акустической эмиссии
- Испытательно-измерительный комплекс аппаратуры для определения тепловых и электрических характеристик и параметров силовых полупроводниковых приборов
- Стенд для исследований рабочих процессов ДВС в динамических режимах
Радиоэлектроника и телекоммуникации
- LabVIEW в расчетах радиолиний систем передачи данных
- Аппаратно-программный комплекс для исследования АЧХ и ФЧХ активных фильтров
- Виртуальный лабораторный стенд для исследования параметров двухполюсников резонансным методом
- Измерение шумовых параметров операционных усилителей с применением аппаратно-программных средств NATIONAL INSTRUMENTS
- Измерительный преобразователь на основе цифровой обработки выборок мгновенных значений
- Инструменты для исследования выравнивания электрических каналов
- Инструменты для исследования компенсации эхо-сигналов
- Использование NI LabVIEW для математического моделирования сверхширокополосного стробоскопического осциллографа и исследования методов расширения его полосы пропускания
- Исследовние возможности создания измерителя ВАХ фотоэлементов на базе виртуальных средств измерений
- Математическое моделирование генератора сигналов - имитатора джиттера и измерителя параметров джиттера
- Моделирование и экспериментальное исследование линейных антенн и антенных решеток в учебной лаборатории средствами LabVIEW
- Применение осциллографического модуля с высоким разрешением для создания SPICE- модели импульсного сигнала
- Симуляция отклика импульсного радиолокационного сигнала и его FFT анализ в программной среде Lab VIEW 7.1
- Автоматизация формирования уравнений состояния для исследования переходных процессов в среде LabVIEW
- Блок гальванической развязки для устройства сбора данных NI USB-6009
- Разработка автоматизированного стенда для измерения относительного остаточного электросопротивления (RRR) сверхпроводников
- Применение среды LabVIEW для построения картины возбуждения комбинационных колебаний в пространстве Ван Дер Поля
- Портативная система для определения показателей качества электрической энергии
- Использование LabVIEW для управления источником питания PSP 2010 фирмы GW INSTEK
- Устройство для снятия вольт-амперных характеристик солнечных модулей на базе USB-6008
Передовые научные технологии: нано-, фемто-, биотехнологии и мехатроника
- Автоматизированная установка по измерению временных характеристик реверсивных сред
- Автоматизированный лабораторный комплекс на базе LabVIEW для исследования наноструктур
- Визуализация моделирования и оптимизации тепловой обработки биопродуктов с применением современных информационных технологий и программных средств
- Виртуальный прибор для исследования функциональных возможностей алгоритма полигармонической экстраполяции
- Исследование возможности создания экономичного виртуального полярографа на основе платы USB 6008 в среде LabVIEW
- Исследование кинетики движения макрочастиц в упорядоченных плазменно-пылевых структурах
- Комплекс автоматизированной диагностики крови
- Метод прогнозирования свойств дисперсных продуктов при обработке возмущениями давления
- Недорогая система управления сверхпроводящим соленоидом с биквадрантным источником тока
- Применение технологий NI в курсе экспериментальной физики на примере выдающихся экспериментов: самоорганизованная критичность
- Расчет переноса аэрозоля и выпадения осадка в реальном времени
- Формирование линейной шкалы цвета модели CIE L*a*b с использованием LabVIEW
- Установка для измерения вольтамперных характеристик солнечных элементов и модулей
- Применение NI VISION для геометрического анализа в медицинской эндоскопии
- Система температурной стабилизации
- Управление движением с помощью программно - аппаратного комплекса NI - Motion
- Определение параметров всплывающих газовых пузырьков по данным эхолокационного зондирования с применением технологии виртуальных приборов
- Система управления асинхронным тиристорным электроприводом
- Лазерный профилометр
- Применение средств NATIONAL INSTRUMENTS для автоматизации процесса очистки сточных вод в мембранном биореакторе
- Разработка автоматизированного стенда для исследования плазменных процессов синтеза нанопорошков
- Автоматизированный стенд рентгеновской диагностики плазмы
- Высокочувствительные оптоэлектронные дифракционные датчики малых перемещений и колебаний
- Установка для измерения диэлектрических свойств сегнетоэлектриков методом тепловых шумов
- Исследование кинетики зарождения и развития дефектов в растущем монокристалле карбида кремния на основе акустической эмиссии и лазерной интерферометрии
- Лабораторный электрический импедансный томограф на базе платы сбора данных PCI 6052E
- Микрозондовая система для характеризации механических свойств материалов в наношкале
- Метод траекторий в исследовании металлообрабатывающих станков
Продолжение справочного пособия
>>> | 0 !................... |
20 !................... |
40 !................... |
60 !................... |
80 !................... |
100 !................... |
120 !................... |