Измерение избыточного давления в газовых линиях

В блок заложены основные математические модели частотных характеристик стандартных радиотехнических цепей. Измерение длительности импульса с помощью автокоррелятора второго порядка. Различие амплитуд генерируемого и измеряемого сигналов в режиме работы с компьютером при генерации гармонического сигнала, % с частотой 10 кГц не более 5 с частотой 100 кГц не более 10 2. Обучение методам проектирования систем автоматического управления и регулирования будет более эффективным, если в состав лабораторного стенда, кроме программных моделей, иллюстрирующих различные алгоритмы управления, включить достаточно простой и легко интегрируемый со стандартным лабораторным оборудованием реальный физический объект. Коррекция аппаратных и методологических погрешностей. Экспериментально измеренная пороговая чувствительность датчика составляет величину порядка сотых долей миллирадиана при полосе канала регистрации от 0 до 1000 Гц. Представляется интересных проведения вибро акустических экспериментальных исследований работы ультразвуковых инструментов в процессе сварки или упрочняюще-финишной обработки, которые позволят на стадии технологического процесса прогнозировать брак например, не плоское прижатие инструмента к свариваемому или обрабатываемому изделию. Моделирование и экспериментальное исследование линейных антенн и антенных решеток в учебной лаборатории средствами LabVIEW 1. Погрешность ε3, вызванная загрязнением объектов измерения, представлена на рис.

Коэффициент несимметрии напряжений по обратной последовательности K2U; 6. Бублик Влияние температуры синтеза на состав и строение пленок гидрогенизированного карбида кремния // Вестник Северо- Кавказского государственного технического университета. Измерение диаграмм направленности для смоделированного амплитудно-фазового распределения осуществляется определением показаний индикатора 10 при различных углах поворота излучателя на поворотной стойке 7. Исследования, проведенные на различных сварных швах, показали возможность быстрого и надежного определения дефектности контролируемого шва по целому ряду геометрических параметров.

Причинами такого влияния, вероятно, являются процессы формирования инверсионных слоев на границах раздела материалов подложки и пленки, а также влияние поверхности неупорядоченного материала пленки. Решается измерительная задача, требуется получить двумерное изображение и выполнить идентификацию объекта и определить его геометрические параметры.

В УИЦ «Нанотехнологии и наноматериалы» Тамбовского государственного университета разработана гамма методов и приборов для осуществления нанотестинга поверхности в широком диапазоне скоростей нагружения. Программным алгоритмом реализовано виртуальное средство измерений в среде LabVEW . Рабочие станции могут отобразить текущие измерения АЭ и их историю, могут выполнять простую обработку сигналов АЭ : дискриминацию сигнала по заданному порогу, получение суммы амплитуд АЭ или суммы импульсов АЭ на заданных временных интервалах и т.

Соотношения 1-3, положенные в основу алгоритма измерений, ориентированы на исключение ошибок второго рода. Измерение вязкости в режиме постоянного момента осуществляется посредством нагружения грузами, устанавливаемыми в чашку 2 рис.

Джиттер периода: изменение периода тактового сигнала Dtпериодn = tn- tn-1 А также измерение ключевого показателя производительности в системах цифровой связи - частоты ошибок по битам BER. Измерительная часть включает в себя: панель с датчиками датчики давления HONEYWELL, закрепленная на задней стороне лабораторного стенда аналого-цифровой преобразователь устройство сбора данных М-серии USB-6218 компании National Instruments устройство двухкоординатного позиционирования, осуществляющее перемещение трубки Пито-Прандтля измерение скоростного напора по рабочей части диффузора. Программное обеспечение запускает одновременно три процесса на устройстве сбора данных - изменение выходного напряжения, что приводит к изменению нагрузки, измерение напряжение и тока.

Необходимость в использовании таких методов возникает, например, при контроле тонкостенных мембран 0,1 - 0,3 мм, являющихся чувствительным элементом некоторых типов датчиков давления жидкости и газа. Практически все эти факторы, имеющие систематический характер, автоматически учитываются программным обеспечением, а влияние случайных факторов предельно ослабляется за счет большой статистики измерений. В исследованиях полупроводниковых приборов, свойств низкоразмерных структур тонких пленок, в разработках запоминающих сред, в том числе для терабитной памяти, для физического моделирования поведения материала в условиях кратковременного нано- или микроконтактного взаимодействия двух тел при сухом трении шероховатых поверхностей, абразивном и эрозионном износе и т. Используемое оборудование и ПО Рассмотренные выше устройства для лабораторных стендов содержат согласующие компоненты, что позволяет их сопрягать практически с любыми платформами NI - встраиваемыми в персональный компьютер модулями DAQ PCI, с устройствами и системами DAQ USB, Compact DAQ, Compact RIO, Compact Field Point. Все встроенные узлы стенда питаются от внутреннего источника питания, напряжение на них подается при горящих индикаторных светодиодах «+5 В», «-15 В», «+15 В».

Измерительный комплекс предназначен для исследований средств измерения температуры в диапазоне от -60 °С до +400°С. Для объекта в форме кольца выполняется измерение наружного диаметра D и диаметра отверстия d, межцентровых расстояний концентричности ∆с в соответствии с рис. Является блок-сенсор, представляющий собой прозрачную пластинку толщиной несколько миллиметров. При использовании модулей ввода-вывода другого типа соответственно изменяются количество каналов и технические характеристики. Описание решения С помощью возможностей программной среды формируется испытуемый импульс либо произвольная периодическая последовательность.

Регистрируемые данные сохраняются в файлы с маской N_ch*. При этом последовательное сопротивление солнечного элемента порядка 10"3Ом. Основным нерешенным вопросом остается вопрос о наилучшей архитектуре системы для каждого конкретного практического приложения метода ЭИТ. К сожалению, многие из этих наработок по ряду причин не могут быть растиражированы для использования другими вузами. Преимущества технологии National instruments Полученный на кафедре информационных систем МИРЭА опыт показывает, что использовании технологий компании National Instruments при создании рассмотренных выше категорий лабораторных практикумов позволяет повысить эффективность учебного процесса и поднять интерес студентов к изучению дисциплин. Garcsra Sar’nchez, Juan Muci New method to extract the model parameters of solar cells from the explicit analytic solutions of their illuminated I-V characteristics// Solar Energy Materials & Solar Cells, 90 2006 p. Измерение осуществляется с опорой на статическое давление во входном сечении диффузора.

На участке г мы производим математический обсчет во внешней обрабатывающей программе.

Исследования

Продолжение справочного пособия