Контрольная точка - выход ЦАП - выход инвертора

Бесконтактные методы реализуются в различных модах многофункциональных туннельных и атомно-силовых микроскопов 1, Силовой нанотестинг использует метод динамического кинетического наноиндентирования - мониторинга в реальном времени кинетики программируемого вдавливания в исследуемую поверхность хорошо аттестованного алмазного зонда-индентора 2. На рисунке 1 якорные обмотки двигателей обозначены символами I-VIII, а, соответствующие им обмотки возбуждения - ОВ1-ОВ8. При построении ИИС на базе АЦП/ЦАП рисунок 4 в качестве первичных преобразователей используются аналоговые датчики, которые преобразуют измеряемую физическую величину в определенном диапазоне в пропорциональный электрический сигнал. Четвертая мгновенная схема VS1 и VS2 открыты: Расчет мгновенных значений производится решением дифференциальных уравнений на основе метода Эйлера. Полученная осциллограмма переднего фронта формируемого ЦАП опорного напряжения приведена на рисунке 3. Но в персональном компьютере уже есть высокоточная и достаточно быстродействующая плата ввода/вывода - звуковая плата, которая может использоваться для формирования гармонического сигнала в ПТ режиме, но ее недостатком является невозможность формирования и приема постоянных сигналов. Заданные при помощи компьютера параметры воздействующих сигналов выводятся при помощи платы USB 6008, поступают на исследуемый фотоэлемент, его выходной сигнал поступает на преобразователь ток/напряжение, далее оцифровывается при помощи той же платы, обрабатывается в компьютере.

Но это значение может быть уменьшено до 150-200 мкс в зависимости от оптимизации модели и количества аналоговых каналов. Схема электрических соединений в криостате Схема прибора показана на рисунке 2. Достичь необходимого значения частоты срабатывания ключевых элементов шага интегрирования не удалось по следующим причинам.

Структура измерительной системы с автокалибровкой Ресурсы любого многофункционального устройства NI достаточны для организации измерительного канала температуры с коррекцией систематических погрешностей АЦП и линии дискретного вывода. В помощь студентам составлена краткая инструкция пользователя. Ориентация на создание прототипа реальной системы предъявляет к таким пакетам ряд новых требований. Модульный принцип построения основных узлов и гибкость разрабатываемой информационно-измерительной системы позволяет проводить расширение объектов исследования и проводить еще 9 лабораторных работ. Учебный прибор для демонстрации свойств антенн с плоским раскрывом, Патент РФ №2079938, 20. Где: В - тормозная сила электровоза, Н. Используемое оборудование и ПО При построении ИИС авторами были проанализированы два принципиально разных подхода к построению ИИС: 1 на базе платы аналого-цифрового АЦП и цифро-аналогового ЦАП преобразования; 2 на базе первичных преобразователей со встроенным АЦП. Это ПО имеет двухуровневую архитектуру, состоящую из измерительной и клиентской частей. Все изменения состояния соленоида заносятся в log файл. Инструментальные пакеты моделирования устанавливаются на однопроцессорных компьютерах. Причем не просто познакомить, а найти способ сделать так, чтобы они запомнили это на всю оставшуюся жизнь или, по крайней мере, время обучения и, желательно, работы. Прохождение детерминированных сигналов через линейные цепи» - изучение спектрального метода анализа передачи детерминированных сигналов через линейные цепи и особенностей прохождения управляющих детерминированных сигналов через типовые радиотехнические цепи; 2.

Используемое оборудование и ПО Программное обеспечение измерительного стенда содержит: драйверы модуля PCI 5122 и среду графического программирования LabVIEW, в которой реализован виртуальный прибор рисунок 1. Рисунок 6 - Схема реконфигурируемой ИИС на базе единой платы АЦП лабораторного комплекса по исследованию элементной базы машин 4. На вход ИС подается сформированное цифро-аналоговым преобразователем ЦАП опорное напряжение прямоугольной формы. Описание решения Для получения модели, достоверно воспроизводящей форму импульсного сигнала на выходе ЦАП, можно использовать высокоскоростные платы сбора данных, например, быстродействующий прецизионный модуль PCI 5122.

МА; относительная погрешность измерения 2% 10Тензорезисторы 1-LY41-6/120Hottinger Baldwin MesstechnikМатериал: фольга на полиамидной подложке, сопротивление 120 Ом, к-фактор 2,07; рабочая температура 23°С, поперечная чувствительность 0,1; максимальное растяжение: 2% -растяжение, 5% - сжатие; 11Датчик силы CWW-200kgfDacellНоминальный диапазон: до 200кгс, выходной сигнал: 1,5мВ/В; нелинейность 0,5%; питание 10В 12Датчик силы UMI-200kgfDacellНоминальный диапазон: до 200кгс, выходной сигнал: 2мВ/В; нелинейность 0,03%; питание 10В Рисунок 4 - Схема информационно-измерительной системы на базе платы АЦП/ЦАП Разновидностью ИИС на базе платы АЦП/ЦАП является схема комплекса сбора информации, представленного на рисунке 5. Осциллограмма выходного напряжения ЦАП.

Лабораторный практикум по курсу ИИС на базе оборудования NI CompactDAQ Одной из новых тенденций развития современной информационно-измерительной техники является развитие и совершенствование виртуальных измерительных приборов, построенных на базе персонального компьютера и стандартной плате ввода-вывода аналоговых сигналов АЦП/ЦАП или микропроцессора с аналоговым вводом информации. Получение оценки корреляционной функции гармонического сигналаКачественное подавление шума с помощью корреляции Зависимость дисперсии выборочной корреляционной функции от длины выборки.

Требования к плате ввода/вывода заключаются в обеспечении заданной скорости развертки аналогового сигнала, что можно описать выражением: v = ∆KBf, которая в этом режиме составляет доли- единицы вольт в секунду. МП системы моделирования 1 отличаются от АВМ дискретным представлением информации и программным управлением функциями решающих блоков РБ и связями между ними. Проведя всего один эксперимент, можно узнать все нужные характеристики ЦАП, как статические, так и динамические, и получить исходные данные для составления модели напряжения, формируемого ЦАП. К ним можно также добавить погрешность определения глубины начального отпечатка, определяющего начало отсчета как смещения индентора, так и величины нагрузки, шероховатость поверхности образца и негомогенность его свойств по поверхности, масштабный эффект в твердости и влияние остаточных механических напряжений, выбор числа точек аппроксимации для определения жесткости S, приближенность формулы для определения площади контакта Ар индентора с образцом. Использование прототипа объекта управления или контроллера в петле с реальной аппаратурой HIL предъявляют к численному методу интегрирования, реализуемому на целевом микропроцессоре выполнения дополнительных требований: -возможность распараллеливания процесса вычислений; -обеспечение необходимой точности получения решений в заданном частотном диапазоне при известной длине машинного слова целевого микропроцессора; -минимальные аппаратурные затраты для выполнения арифметических операций; -минимальный объем регистрового запоминающего устройства; -автоматическая настройка структуры прототипа; -алгоритм управления прототипом не должен приводить к усложнению процесса моделирования в целом; -автоматическая генерация исполняемого кода.

Основу прибора составляет USB DAQ 6008. Основная направленность -разработка измерительных систем для проведения научных исследований, мониторинга состояний технологических процессов, применение аппаратных и программных средств National Instruments. В качестве таких методов контроля и аттестации наиболее перспективным является использование неразрушающих зондовых методов механического тестирования как бесконтактного, так и силового характера. Для организации их совместной работы используется механизм синхронной передачи данных Notifier, являющийся элементом среды LabVIEW. Начиная со значения шага интегрирования h=10-4 сек виртуальные осциллографы Scope и SimTime Waveform из-за ограниченного объема памяти буфера не обеспечивают непрерывного наблюдения графиков решений на всем промежутке интегрирования. Последнее особенно актуально в связи с началом реализации ФЦНТП в области индустрии наносистем и наноматериалов.

Перед студентами 2-го или 3-го курса втузов, на которых изучается дисциплина «Электротехника и электроника» в ограниченном объеме 120-250 часов, ставятся следующие задачи: - научиться собирать схемы с подключением к ним измерительных приборов и источников энергии; - задавать параметры элементов схемы источников входных воздействий и пассивных элементов или функциональных блоков в соответствии с выданным преподавателем вариантом задания; - устанавливать режим работы на панелях измерительных приборов, чтобы получить результаты в привычной для него форме; - с помощью компьютера или вручную построить графики и диаграммы и провести анализ полученных результатов. Получение оценки СПМ методом периодограммСтуденты изучают влияние паарметров метода периодограмм на оценку СПМ Выделение сигнала из шумаРешение основной проблемы задачи: выделение сигнала из шума методом спектрального анализа. Pile-up в мягких материалах 4. Энергию, поглощенную в цикле6.

Исследования

Продолжение справочного пособия