Навигация
Поиск
Информация
Контакты
an image
НПП Центральная лаборатория автоматизации измерений
111250 Москва, Энергетическая улица, д.7, офис 311
(495) 134-03-49
E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.

ПО для микроконтроллеров блоков системы написано в среде Keil uVision

Кроме того, в процессе дальнейшего обучения студентам легче освоить современные системы проектирования ПЛИС. Печатающая головка SV-1000A может перемещаться вдоль маркируемой поверхности и таким образом наносить маркировку на неподвижное изделие.

; амплитуда входного сигнала - логический уровень 3,3 В; ; внешнее напряжение питания - 90 - 400 В ; напряжение питания от шасси SCXI-24 В 2. Деп, необходим выбрать команду меню Project>AVR Assembler setup. Учреждения, обучающие работе с программной оболочкой LabVIEW, взаимодействию по интерфейсам RS232 и GPIB, программированию микроконтроллеров MSP430F149/MSP430F449. Состоящей из наборной макетной платы с электрической принципиальной схемой, микроконтроллером, тестируемой термосбалансированной сборки с активной компенсацией.

Внешний вид макета системы контроля представлен на рис. Для защиты от вибраций профилометр крепится на массивной металлической плите, установленной на амортизаторы. Изображение с цифровой камеры во время сканирования плоскости фокусировки передается в компьютер 6. Устройство имеет следующие технические характеристики: ; несущая частота to входного сигнала - от 0,5 МГц до 50 МГц; ; ширина полосы входного сигнала Af по уровню -ЗдБ - от 10 кГц до 300 кГц; ; затухание вне полосы - не менее 30 дБ при отстройке на ∆f от f0; ; коэффициент усиления - от 0 дБ до +90 дБ регулируется независимо в каждом канале с шагом 3 дБ; ; динамический диапазон -110 дБ; ; максимальная амплитуда выходного напряжения - 2,4 В; ; чувствительность - 3 мкВ при отношении С/Ш=10 дБ и полосе 50 кГц; ; максимально допустимая амплитуда входного сигнала - не менее 100 В при длительности не более 1 мс ; напряжение питания - 24 В 2. С помощью адаптера SCXI-1349 квадратурный преобразователь может быть подключен непосредственно к универсальной DAQ -карте "Е" или "М" - серии. Creating LEGO® MINDSTORMS® NXT Software Blocks, National Instruments Corpo ration, 2006, pp. Данная функция реализуется с помощью микроконтроллера.

При выходе из программы-стенда загруженная программа в микроконтроллере, а также положение выключателей на стенде сохраняется. Температура масла на выходе дизеля, °С0. Таким образом, использование компьютера и управляющего программируемого микроконтроллера NXT позволили осуществлять прямое автоматическое управление работой всего микроскопа с основного компьютера 6.

Все больше студентов работают, поэтому график их обучения должен быть гибким, а нагрузка - меньшей. В связи с этим для считывания данных и управления лазерным датчиком, а также мотоприводами транслятора и ротатора используются стандартные порты компьютера СОМ и LPT, работа с которыми поддерживается Measurement & Automation Explorer, входящим в комплект ПО LabVIEW 7. Новый подход к инженерному образованию», Центр-Пресс, Москва 2000, Отраслевой Стандарт 9. При этом в распоряжении пользователя доступны следующие измерительные приборы широкого назначения: Таблица 1 № Наименование прибораКаналовХарактеристики 1 Генератор аналоговых сигналов4Сигналы типовые, по формуле 2 Осциллограф4 3 Мультиметр4Измерения U, I; DC или АС 4 Частотомер1DI + 1AIОдин из 4-х AI 5 Анализатор спектра1Один из 4-х AI 6 Характериограф1Один из 4-х AI 7 Анализатор АЧХ/ФЧХ1Один из 4-х AI 8 Генератор цифровых воздействий16Типовые последовательности 9 Анализатор логических состояний16Задержка до 216 тактов Для приборов, работающих с аналоговыми сигналами, обеспечивается разрешающая способность 16 бит и интервал дискретизации во времени 4 мкс в диапазоне ±10В.

Каждый канал обладает следующими техническими характеристиками: ; амплитуда выходного импульса на нагрузке 50 Ом - не менее 350 В; ; полярность выходного импульса - отрицательная; ; минимальная длительность импульса по уровню 0. Сварка 2-х частей прозрачного полотна толщина 180мкм. На левом графике представлен увеличенный фрагмент испытания системы с различными устанавливаемыми уровнями мощности активного элемента. Все элементы блока устройств управления смонтированы в корпусе модернизированного мощного импульсного источника питания формата АТХ для персональных компьютеров. Для управления микроскопом были использованы функции прямого управления микроконтроллером NXT Toolkit. Рисунок 2 - Интерфейсная панель программы управления температурными режимами барокамеры Обращение к микроконтроллеру осуществляется через набор команд представленных символьными строками. Приведена автоматическая схема управления и стабилизации температуры полупроводникового лазера. Основной проблемой является получение такого сфокусированного изображения в процессе автоматического сканирования плоскости фокусировки. Возможности микроконтроллера обеспечивают использование контактных датчиков для фиксации перемещения в верхнем и нижнем положении, а светового датчика для контроля освещенности.

Участок 30 - 33 с перерегулирование при отключении активного элемента. Однако вопросы оценки качества применения таких модулей для контроля и испытания изделий с применением технологий NI рассмотрены не достаточно.

Общество требует уважения к статусу студента. Система контроля температуры с обратной связью легко вписывается в цифровую схемотехнику, тем самым позволяет использовать разработанную аппаратную часть без изменения для различных вариантов применений. МРБ, 1263 Москва: Горячая линия -Телеком, 2003.

Передняя панель или система панелей разрешает оптимально планировать проведение эксперимента. В отчете по работе приводятся схемы подключения приборов к тестируемым устройствам и соответствующие временные диаграммы .

Необходимо отметить, что микроконтроллер ATMEGA8535 имеет лишь 512 байт памяти EEPROM, поэтому если файл. Одним из эффективных методов неразрушающего контроля является оптический метод. Название порта изменяется при различных комбинациях логических уровней на их вход см.

Управление активным элементом температурной компенсации осуществляется с помощью ШИМ и драйвером контроля переключения полярности элементов пельтье, которое осуществляется через последовательный интерфейс преобразователя подключенного к аналогичному микроконтроллеру выполняющего мостовую функцию конвертора принимаемых команд от управляющего виртуально инструмента VI программы LabVIEW. Обработанный фрагмент изображения требовал выбора алгоритма анализа структуры получаемого изображения.


Исследования

Стендовые испытания (виброакустика, тензометрия и т.п.)

  1. Автоматизированная система измерения параметров дизельных двигателей типа В-46

  2. Система мониторинга состояния тяговых электродвигателей электровоза на базе устройств National Instruments

  3. Контроль духовых музыкальных инструментов

  4. Лабораторный комплекс по исследованию элементной базы машин

  5. Применение LabVIEW real-time module для моделирования электромагнитных процессов с целью отладки систем управления электрооборудованием на электроподвижном составе (ЭПС)

  6. Создание комплекса по измерению скорости подвижного состава для тренажера машиниста состава

  7. Система автоматизации экспериментальных исследований в гиперзвуковых аэродинамических трубах

  8. Функциональные модули в стандарте Nl SCXI для ультразвуковых контрольно-измерительных систем

  9. Магнитометрический метод в дефектоскопии сварных швов металлоконструкций

  10. Перспективы использования машинного зрения в составе системы управления движением экраноплана

  11. Компьютерные измерительные системы для лабораторных испытаний материалов методом акустической эмиссии

  12. Испытательно-измерительный комплекс аппаратуры для определения тепловых и электрических характеристик и параметров силовых полупроводниковых приборов

  13. Стенд для исследований рабочих процессов ДВС в динамических режимах

Радиоэлектроника и телекоммуникации

  1. LabVIEW в расчетах радиолиний систем передачи данных

  2. Аппаратно-программный комплекс для исследования АЧХ и ФЧХ активных фильтров

  3. Виртуальный лабораторный стенд для исследования параметров двухполюсников резонансным методом

  4. Измерение шумовых параметров операционных усилителей с применением аппаратно-программных средств NATIONAL INSTRUMENTS

  5. Измерительный преобразователь на основе цифровой обработки выборок мгновенных значений

  6. Инструменты для исследования выравнивания электрических каналов

  7. Инструменты для исследования компенсации эхо-сигналов

  8. Использование NI LabVIEW для математического моделирования сверхширокополосного стробоскопического осциллографа и исследования методов расширения его полосы пропускания

  9. Исследовние возможности создания измерителя ВАХ фотоэлементов на базе виртуальных средств измерений

  10. Математическое моделирование генератора сигналов - имитатора джиттера и измерителя параметров джиттера

  11. Моделирование и экспериментальное исследование линейных антенн и антенных решеток в учебной лаборатории средствами LabVIEW

  12. Применение осциллографического модуля с высоким разрешением для создания SPICE- модели импульсного сигнала

  13. Симуляция отклика импульсного радиолокационного сигнала и его FFT анализ в программной среде Lab VIEW 7.1

  14. Автоматизация формирования уравнений состояния для исследования переходных процессов в среде LabVIEW

  15. Блок гальванической развязки для устройства сбора данных NI USB-6009

  16. Разработка автоматизированного стенда для измерения относительного остаточного электросопротивления (RRR) сверхпроводников

  17. Применение среды LabVIEW для построения картины возбуждения комбинационных колебаний в пространстве Ван Дер Поля

  18. Портативная система для определения показателей качества электрической энергии

  19. Использование LabVIEW для управления источником питания PSP 2010 фирмы GW INSTEK

  20. Устройство для снятия вольт-амперных характеристик солнечных модулей на базе USB-6008

Передовые научные технологии: нано-, фемто-, биотехнологии и мехатроника

  1. Автоматизированная установка по измерению временных характеристик реверсивных сред

  2. Автоматизированный лабораторный комплекс на базе LabVIEW для исследования наноструктур

  3. Визуализация моделирования и оптимизации тепловой обработки биопродуктов с применением современных информационных технологий и программных средств

  4. Виртуальный прибор для исследования функциональных возможностей алгоритма полигармонической экстраполяции

  5. Исследование возможности создания экономичного виртуального полярографа на основе платы USB 6008 в среде LabVIEW

  6. Исследование кинетики движения макрочастиц в упорядоченных плазменно-пылевых структурах

  7. Комплекс автоматизированной диагностики крови

  8. Метод прогнозирования свойств дисперсных продуктов при обработке возмущениями давления

  9. Недорогая система управления сверхпроводящим соленоидом с биквадрантным источником тока

  10. Применение технологий NI в курсе экспериментальной физики на примере выдающихся экспериментов: самоорганизованная критичность

  11. Расчет переноса аэрозоля и выпадения осадка в реальном времени

  12. Формирование линейной шкалы цвета модели CIE L*a*b с использованием LabVIEW

  13. Установка для измерения вольтамперных характеристик солнечных элементов и модулей

  14. Применение NI VISION для геометрического анализа в медицинской эндоскопии

  15. Система температурной стабилизации

  16. Управление движением с помощью программно - аппаратного комплекса NI - Motion

  17. Определение параметров всплывающих газовых пузырьков по данным эхолокационного зондирования с применением технологии виртуальных приборов

  18. Система управления асинхронным тиристорным электроприводом

  19. Лазерный профилометр

  20. Применение средств NATIONAL INSTRUMENTS для автоматизации процесса очистки сточных вод в мембранном биореакторе

  21. Разработка автоматизированного стенда для исследования плазменных процессов синтеза нанопорошков

  22. Автоматизированный стенд рентгеновской диагностики плазмы

  23. Высокочувствительные оптоэлектронные дифракционные датчики малых перемещений и колебаний

  24. Установка для измерения диэлектрических свойств сегнетоэлектриков методом тепловых шумов

  25. Исследование кинетики зарождения и развития дефектов в растущем монокристалле карбида кремния на основе акустической эмиссии и лазерной интерферометрии

  26. Лабораторный электрический импедансный томограф на базе платы сбора данных PCI 6052E

  27. Микрозондовая система для характеризации механических свойств материалов в наношкале

  28. Метод траекторий в исследовании металлообрабатывающих станков

Продолжение справочного пособия

>>> 0
!...................
20
!...................
40
!...................
60
!...................
80
!...................
100
!...................
120
!...................